1. Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications
پدیدآورنده : Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, and J. Moises Padilla
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : ، Diffraction patterns--Data processing,، Image processing--Data processing
رده :
QC
415
.
F88
2014